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鈣鈦礦太陽能電池中鉛的毒性問題引發(fā)了人們的擔(dān)憂。鉛的使用對環(huán)境和人類健康構(gòu)成威脅。盡管鉛在地殼中天然存在，但過去幾個(gè)世紀(jì)的人類活動(dòng)，如采礦、汽油、油漆和電子產(chǎn)品中的鉛使用，導(dǎo)致了與鉛接觸相關(guān)的風(fēng)險(xiǎn)的增加。為了降低這些風(fēng)險(xiǎn)，鉛的使用受到嚴(yán)格的監(jiān)管，并制定了特定的限制措施。然而，現(xiàn)有的立法并未明確提及基于鈣鈦礦的電子產(chǎn)品，因此，迫切需要對這些材料的風(fēng)險(xiǎn)進(jìn)行評估，以確保鈣鈦礦電子產(chǎn)品的安全性和可持續(xù)性創(chuàng)新。最近，南京工業(yè)大學(xué)的研究團(tuán)隊(duì)與AntonioAbate、MichaelGr?...

在光電領(lǐng)域，量子產(chǎn)率（PLQY）是一項(xiàng)至關(guān)重要的參數(shù)。對于那些對此領(lǐng)域充滿熱情和挑戰(zhàn)的研究者來說，選擇一款可靠、精細(xì)、易于操作的光致發(fā)光量子產(chǎn)率量測系統(tǒng)就顯得至關(guān)重要。光焱科技Enlitech研發(fā)的LQ-100X-PL就是為滿足這些需求而生，LQ-100X-PL適用的研究領(lǐng)域廣泛，包括熒光粉、LED熒光材料、OLED熒光材料、鈣鈦礦、雷射染料、鈣鈦礦量子點(diǎn)粉末與單晶、PbS量子點(diǎn)等。每一個(gè)優(yōu)秀的研究團(tuán)隊(duì)都明白，最重要的工作不是組裝測量儀器，而是進(jìn)行實(shí)質(zhì)的科學(xué)研究。是時(shí)候停止使...

分子摻雜工藝：研究人員引入了一種使用二甲基胺基摻雜劑的分子摻雜工藝，該工藝能夠創(chuàng)建一個(gè)與p-鈣鈦礦/ITO接觸良好且能夠鈍化晶界的結(jié)構(gòu)。這種創(chuàng)新工藝提高了鈣鈦礦太陽能電池的功率轉(zhuǎn)換效率（PCE），實(shí)現(xiàn)了經(jīng)認(rèn)證的25.39%的PCE，這是對鈣鈦礦太陽能電池現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)的改進(jìn)。分子擠壓技術(shù)：該工藝采用了一種“分子擠壓”方法，在甲苯淬滅結(jié)晶過程中將分子從前驅(qū)體溶液排出到晶界和薄膜底部。這種技術(shù)導(dǎo)致了鈣鈦礦薄膜的p-摻雜，有助于提高器件的效率。長壽命和高效率：器件在逆向掃描時(shí)實(shí)現(xiàn)了25....

內(nèi)行一看就懂:Enlitech的SG-A量子效率檢測與傳統(tǒng)CIS缺陷檢測有何不同?常見的傳統(tǒng)非破壞性缺陷檢測方法有兩種：AOI檢測成像質(zhì)量檢測ＡＯＩ檢測的原理：AOI檢測（AutomaticOpticalInspection）是一種利用光學(xué)成像技術(shù)對CIS影像芯片進(jìn)行缺陷檢測的方法。該系統(tǒng)包含一個(gè)主動(dòng)光源，將光照射到CIS影像芯片表面上，透過光線的反射，被相機(jī)鏡頭收集，形成CIS表面影像。這個(gè)影像可以通過影像辨識(shí)軟件進(jìn)行分析和處理，自動(dòng)辨識(shí)CIS芯片表面缺陷。AOI檢測的優(yōu)點(diǎn)...

什么是PL?光致發(fā)光(Photoluminescence,PL)，是指物質(zhì)吸收光子后重新輻射出光子的過程，光致發(fā)光(Photoluminescence,PL)是物質(zhì)發(fā)光的多種形式之一，物質(zhì)吸收光子躍遷到較高能級(jí)的激發(fā)態(tài)后返回低能態(tài)，同時(shí)放出光子，故名“光”致發(fā)“光”。光致發(fā)光(Photoluminescence，簡稱PL)是冷發(fā)光的一種，指物質(zhì)吸收光子(或電磁波)后重新輻射出光子(或電磁波)的過程。從量子力學(xué)理論上，這一過程可以描述為物質(zhì)吸收光子躍遷到較高能級(jí)的激發(fā)態(tài)后返回低...