久久综合九色综合97欧美,丁香激情综合网,亚洲欧美日韩三区,www.动态av

穩(wěn)定高度配位中間相,環(huán)境溫度升高至28度達(dá)24至25%PCE

發(fā)表時(shí)間:2025/2/11 14:43:07

研究成就與看點(diǎn)

這項(xiàng)研究發(fā)現(xiàn)并利用1,3-二甲基-3,4,5,6-四氫-2(1H)-嘧啶酮 (DMPU) 作為溶劑添加劑,能夠在較寬的環(huán)境溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定鈣鈦礦薄膜的制備過程,并顯著提高太陽能電池的性能與可靠性。

中間態(tài)穩(wěn)定性:研究發(fā)現(xiàn),DMPU可以與 PbI2形成穩(wěn)定的中間態(tài),有效抑制高溫下晶核的聚集,從而減少裂紋的產(chǎn)生。

擴(kuò)展制程窗口:傳統(tǒng)上,高質(zhì)量的鈣鈦礦薄膜需要在嚴(yán)格的溫度控制下制備。本研究通過引入DMPU,將環(huán)境溫度制程窗口從 22 °C 擴(kuò)展至 28 °C,甚至在 30 °C 時(shí)仍能保持一定的效能。

高效率器件:在擴(kuò)展的溫度范圍內(nèi),研究團(tuán)隊(duì)成功制備出功率轉(zhuǎn)換效率 (PCE) 高達(dá) 24-25%的鈣鈦礦太陽能電池。

深入機(jī)理分析:通過原位X射線衍射 (XRD) 和光學(xué)測量技術(shù),深入探討了DMPU在鈣鈦礦成核和結(jié)晶過程中的作用機(jī)理,為進(jìn)一步優(yōu)化鈣鈦礦薄膜的制備提供了理論基礎(chǔ)。

解決產(chǎn)業(yè)痛點(diǎn):這項(xiàng)研究直接針對了鈣鈦礦太陽能電池大規(guī)模生產(chǎn)中對嚴(yán)格溫度控制的依賴問題,為降低生產(chǎn)成本和提高產(chǎn)量提供了新的解決方案。


研究團(tuán)隊(duì)

這項(xiàng)研究由來自多所大學(xué)的研究人員共同完成,包括:香港城市大學(xué)Alex K.-Y. Jen、曾世榮(Sai Wing Tsang);香港理工大學(xué)吳韜(Tom Wu),其中,Tom Wu Sai Wing Tsang 為通訊作者,Yunfan WangZhuoqiong Zhang為共同第一作者。


研究背景

對制程條件的敏感性:鈣鈦礦薄膜的質(zhì)量非常容易受到制程條件的影響,包括溶劑、反溶劑、添加劑、環(huán)境濕度和溫度等。即使是微小的環(huán)境條件波動(dòng),也可能導(dǎo)致制備出的器件性能不佳,這限制了鈣鈦礦太陽能電池的大規(guī)模商業(yè)化應(yīng)用。

環(huán)境溫度效應(yīng):過去的研究已發(fā)現(xiàn),環(huán)境溫度(TA)對鈣鈦礦薄膜的質(zhì)量明顯的影響。在較高的環(huán)境溫度下,鈣鈦礦薄膜容易出現(xiàn)裂紋,導(dǎo)致器件性能下降。

傳統(tǒng)解決方案的局限性:為了解決環(huán)境溫度帶來的問題,傳統(tǒng)的方法是在溫度控制的環(huán)境 (如手套箱) 中進(jìn)行制備,并將溫度控制在 ≤20 °C。這種方法雖然有效,但增加了生產(chǎn)成本,降低了市場競爭力。

裂紋形成機(jī)理不明:過去的研究認(rèn)為,裂紋是晶體快速生長過程中應(yīng)力釋放所致。然而,這項(xiàng)研究的前期工作發(fā)現(xiàn),裂紋在旋涂后立即形成,而不是在晶體生長過程中產(chǎn)生,且裂紋區(qū)域仍然存在相當(dāng)多的材料,而非應(yīng)力釋放造成的空隙。這暗示裂紋的形成與晶粒的不均勻分布有關(guān)。

中間態(tài)作用不明確:過去的研究普遍認(rèn)為,中間態(tài)通過暫時(shí)消耗前驅(qū)體離子來調(diào)節(jié)初始成核過程。然而,中間態(tài)在空間上分離晶核,從而減輕熱活化晶核聚集的作用,尚未被充分認(rèn)識。


解決方案

引入DMPU作為溶劑添加劑:研究團(tuán)隊(duì)選擇DMPU作為溶劑添加劑,主要考慮其較高的Gutmann 供體數(shù) (DN) 和沸點(diǎn)(TB),使其能夠與 PbI2 形成更穩(wěn)定的中間態(tài)。DMPU偶極矩(5.36 D)也高于 DMF DMSO,表示它與 PbI2 的鍵結(jié)傾向更強(qiáng)。

調(diào)控成核動(dòng)力學(xué):通過DMPUPbI2的強(qiáng)烈鍵結(jié),形成穩(wěn)定的中間態(tài),抑制鈣鈦礦前驅(qū)體離子的協(xié)調(diào)和成核過程,有助于在旋涂過程中均勻分散晶核,防止過度聚集。

空間分離晶核:DMPU形成的均勻分布的中間態(tài),可以作為物理屏障,減少熱驅(qū)動(dòng)的晶核碰撞,防止晶核聚集,避免溶質(zhì)耗盡和裂紋形成

穩(wěn)定控制結(jié)晶過程:DMPU的高沸點(diǎn)使其在旋涂和退火過程中緩慢揮發(fā),有助于 從中間態(tài)中穩(wěn)定釋放 Pb2+ I- 離子,從而實(shí)現(xiàn)有序可控的結(jié)晶,最終形成高質(zhì)量的薄膜。

原位監(jiān)測技術(shù):研究團(tuán)隊(duì)采用 原位 X 射線衍射 (XRD) 和光學(xué)測量技術(shù),實(shí)時(shí)監(jiān)測鈣鈦礦的成核和結(jié)晶過程,深入了解DMPU的作用機(jī)制,并分析不同溫度條件下的相演變。


實(shí)驗(yàn)過程與步驟

1. 材料準(zhǔn)備與薄膜制備:

配制前驅(qū)液: CsIMAI、FAI、PbI2 MACl 溶于混合溶劑中。

原始組 (pristine) 使用 DMF DMSO (41) 的混合溶劑。

目標(biāo)組 (target) 使用 DMF、DMSO DMPU(81.30.7) 的混合溶劑。

旋涂成膜:將前驅(qū)液旋涂在玻璃基板上,轉(zhuǎn)速為 5000 rpm,時(shí)間 40 。

滴入反溶劑:在旋涂結(jié)束前 15 ,滴入 氯苯 (CB) 作為反溶劑。

熱退火:立即將基板在 110°C 下退火 30 分鐘

2. 器件制作:

制作電洞傳輸層 (HTL) ITO 玻璃基板上旋涂 Me-2PACz,并在 100°C 下退火 10 分鐘

旋涂鈣鈦礦層:將鈣鈦礦前驅(qū)液旋涂在 HTL 上,并滴入反溶劑 CB

熱退火:將基板在 110°C 下退火 30 分鐘。

鈍化處理:旋涂 PEAI 并在 100°C 下退火 10 分鐘

制作電子傳輸層 (ETL)依序旋涂 PCBM BCP。

蒸鍍電極:最后蒸鍍 (Ag) 電極。

3. 原位監(jiān)測與薄膜表征:

原位XRD分析:在旋涂和退火初期 (0-5 ) ,利用原位XRD監(jiān)測薄膜的 相變化;分析不同溶劑和溫度下的中間態(tài)和α的峰值變化。

原位光學(xué)分析:使用自建系統(tǒng),監(jiān)測旋涂和退火過程中,薄膜的光致發(fā)光(PL)吸收變化;分析不同溶劑下的PL強(qiáng)度、峰值位置、晶核和晶體比例變化;分析吸收邊緣的紅移吸收強(qiáng)度變化。

                                              圖片1.png


研究成果表征

電流-電壓 (J-V) 曲線:

研究使用Enlitech IVS-KA6000 sunshine simulator,設(shè)備使用標(biāo)準(zhǔn)硅太陽能電池校準(zhǔn),在不同環(huán)境溫度(22°C 28°C)下,使用太陽光模擬器測量了原始組和目標(biāo)組鈣鈦礦太陽能電池的 J-V 曲線。

圖片2.png

圖片3.png

推薦使用光焱科技Enlitech SS-X,作為模擬光源,搭配KA6000量測軟件,精準(zhǔn)量測光伏參數(shù)


圖片4.png

6b 顯示了在不同環(huán)境溫度(22°C 28°C)下,原始組(pristine)和目標(biāo)組(target)鈣鈦礦太陽能電池的 J-V 曲線圖。這個(gè)圖表直接展示了DMPU添加劑對于提升高溫下電池效能的影響。從圖中可以明顯看出,在 28°C 時(shí),原始組的 J-V 曲線明顯下降,代表其效能降低,而目標(biāo)組的曲線則保持相對較高的水平,顯示其效能穩(wěn)定。

S1 詳細(xì)列出了在 22°C 28°C 環(huán)境溫度下,原始組和目標(biāo)組太陽能電池的各項(xiàng)光伏參數(shù)。

圖片5.png

S2 提供了在 28°C 環(huán)境溫度下,原始組和目標(biāo)組太陽能電池在正向和反向掃描下的各項(xiàng)光伏參數(shù)。

圖片6.png

穩(wěn)定功率輸出 (SPO)

使用太陽光模擬器測量了目標(biāo)組器件在最大功率點(diǎn) (MPP) 下的穩(wěn)定功率輸出

目標(biāo)組在 1 個(gè)太陽光照射下的 SPO 24.19 mW/cm2,與 J-V 曲線測得的 PCE 相符。

圖片7.png

6d 顯示了在 28°C 下,目標(biāo)組器件的 SPO 結(jié)果。

外量子效率 (EQE)

研究中使用Enlitech的光譜響應(yīng)測量系統(tǒng)QER3-011測量了器件的 EQE 光譜,計(jì)算 EQE 積分電流密度 (JSC),發(fā)現(xiàn)與 J-V 曲線測得的短路電流密度 (JSC) 相符

圖片8.png

圖片9.png

推薦使用Enltiech QE-R太陽能電池量子效率光學(xué)儀,高精度的QE/IPCE測試系統(tǒng)


圖片10.png

圖片11.png

6c S25 顯示在不同溫度下,原始組和目標(biāo)組器件的 EQE 光譜

次帶隙外量子效率 (S-EQE)分析了次帶隙區(qū)域缺陷。結(jié)果顯示,目標(biāo)組器件在 1.5 0.8 eV 的整個(gè)次帶隙區(qū)域的 S-EQE 信號都明顯較低,表明目標(biāo)組薄膜中的缺陷較少。對比原始組和目標(biāo)組的 S-EQE 光譜,發(fā)現(xiàn)在 1.1 eV 1.4 eV 處存在明顯的缺陷峰,分別對應(yīng)于 PbI 的間隙和反位缺陷,以及 FAI 的間隙.( 6e、S27)

圖片12.png

其他表征:

穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光 (PL)測量薄膜的 PL 強(qiáng)度,目標(biāo)組的 PL 強(qiáng)度提高了 4 倍,表明非輻射復(fù)合減少。(5i)

圖片13.png

圖片14.png

推薦使用光焱科技LQ-100X-PL 光致發(fā)光與發(fā)光量子光學(xué)檢測儀,10個(gè)太陽光強(qiáng)度的PLQY系統(tǒng)


時(shí)間解析光致發(fā)光 (TRPL)測量薄膜的 PL 衰減時(shí)間。( 5l)

圖片15.png

原子力顯微鏡 (AFM)測量薄膜的粗糙度,顯示出DMPU可以提升表面平整度。( 5d, e 5f )

圖片16.png

掃描電子顯微鏡 (SEM)觀察薄膜表面形貌,發(fā)現(xiàn)原始組在 28°C 下存在大量裂紋,而目標(biāo)組表面平整光滑。( 5b, c)

圖片17.png

開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)測量薄膜的電勢分布,目標(biāo)組的電勢分布更加均勻。( 5g, h)

圖片18.png

X 射線衍射 (XRD)分析薄膜的結(jié)晶性,發(fā)現(xiàn)原始組的結(jié)晶性會(huì)隨著溫度升高而下降,而目標(biāo)組的結(jié)晶性則相對穩(wěn)定( S20)

圖片19.png

紫外-可見光譜 (UV-Vis)分析薄膜的吸收光譜。( S21)

圖片20.png

電化學(xué)阻抗譜 (EIS)分析器件的缺陷,目標(biāo)組的缺陷密度較低。( S29c)

圖片21.png

暗態(tài) J-V 曲線:分析器件的泄漏電流,目標(biāo)組的泄漏電流較低 ( S29d)

圖片22.png

開路電壓-光強(qiáng)度依賴性圖 (VOC-light dependent plots)分析器件的陷阱密度。( S29e)

圖片23.png

空間電荷限制電流 (SCLC)測量陷阱密度。( S29a,b)

圖片24.png

動(dòng)態(tài)光散射 (DLS)用于分析前驅(qū)體中的聚集體尺寸。( S3)

圖片25.png

熱重分析 (TGA)分析溶劑的揮發(fā)速率。( S5)

分析溶劑的揮發(fā)速率。( S5)

圖片26.png


研究結(jié)論

透過在鈣鈦礦前驅(qū)物中添加DMPU(1,3-二甲基-3,4,5,6-四氫-2(1H)-嘧啶酮) 作為溶劑添加劑,可以形成穩(wěn)定的中間態(tài),進(jìn)而有效地提升鈣鈦礦太陽能電池 (PSCs) 在高環(huán)境溫度下的效能和穩(wěn)定性。

DMPU形成穩(wěn)定的中間態(tài):DMPU作為劉易斯堿,能與 PbI2 有效配位,形成穩(wěn)定的中間加合物,此中間態(tài)在 22 28 °C 的溫度范圍內(nèi)皆穩(wěn)定存在。相較于傳統(tǒng)溶劑,DMPU-PbI2 加合物具有更高的結(jié)合能。
圖片27.png

抑制晶核聚集與裂紋形成DMPU配位的中間態(tài)能推遲晶核生成速度,并作為物理屏障,防止晶核在熱驅(qū)動(dòng)下碰撞聚集,減少溶質(zhì)耗盡和裂紋形成。
圖片28.png

擴(kuò)展制程溫度窗口DMPU的使用可將鈣鈦礦太陽能電池的制程溫度窗口從 22 °C 擴(kuò)展至 28 °C,仍能維持 24% 以上 的功率轉(zhuǎn)換效率 (PCE)。即使在30 °C 的環(huán)境溫度下,PCE 仍可達(dá) 21.8%
圖片29.png

提升電池效能與可靠性: 28 °C 環(huán)境溫度下,DMPU處理組的PCE21.34%提升至 24.32%,開路電壓(VOC)1.09 V提高到1.17 V,填充因子(FF)80.26%提高到83.65%。DMPU處理組的薄膜表面更均勻,缺陷密度顯著降低。組件的穩(wěn)定性也顯著提升,經(jīng)封裝處理后,在空氣中連續(xù)運(yùn)作 200 小時(shí)后仍能維持初始PCE90%以上。

圖片30.png

機(jī)制解析:

原位XRD結(jié)果顯示,DMPU處理組的中間態(tài)更穩(wěn)定,不易受溫度影響。

原位光學(xué)測量結(jié)果顯示,DMPU可有效推遲成核和結(jié)晶過程,并抑制晶核聚集。

DMPU通過與 PbI2 形成穩(wěn)定的中間態(tài),控制前驅(qū)離子的釋放和晶核的成長,實(shí)現(xiàn)可控的結(jié)晶過程。

實(shí)際應(yīng)用:使用DMPU的電池在不同溫度下的效能和保存壽命都明顯優(yōu)于沒有使用DMPU的電池




文獻(xiàn)參考自ACS Energy Letters_DOI: 10.1021/acsenergylett.4c03119

本文章為Enlitech光焱科技改寫 用于科研學(xué)術(shù)分享 如有任何侵權(quán)  請來信告知





版權(quán)所有©2025 光焱科技股份有限公司 All Rights Reserved    備案號:滬ICP備2021022654號-3    sitemap.xml    管理登陸    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)