外部量子效率eqe(nint)是一個微觀過程復合載流子產(chǎn)生的光子數(shù)與復合載流子總數(shù)之比。因為無法去計數(shù)復合載流子總數(shù)和產(chǎn)生的光子總數(shù)。因此一般是通過測量LED輸出的光功率來評價這一效率。直接躍遷過程比間接躍遷過程簡單,其外部量子效率取決于少數(shù)載流子的輻射復合與非輻射復合的壽命。提高外量子效率主要在于提高材料的純度、完整性和改進PN結(jié)制作工藝的特性,以降低非輻射復合中心的濃度。
外部量子效率eqe的測試方法與步驟:
?。?)將待測CCD芯片和標準探測器,以及它們各自的驅(qū)動電路放置在暗室中,并調(diào)節(jié)測量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開光源的開關,使電流保證在8.4到8.6安,打開單色儀開關,打開皮安表開關和移動位移臺的開關。
?。?)通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門,調(diào)整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)
(3)調(diào)節(jié)移動位移臺,將標準件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。
?。?)記錄皮安表的數(shù)值,查表,找出對應波長的數(shù)值,用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值,得出功率值。(正好皮安對皮瓦)
?。?)蓋住CCD相機的鏡頭,在CCD上位軟件上,連接設備,連續(xù)采圖,設置參數(shù)中輸入對應波長,功率值后。再單擊量子效率,完成暗圖像的采集。
?。?)調(diào)節(jié)移動位移臺,將CCD工業(yè)相機調(diào)到激光光斑重合處,(目前大約是回到原點)。
?。?)揭開CCD的鏡頭,讓激光光斑打到CCD上,在設置參數(shù)中輸入對應波長,功率值后,亮圖上打上對勾。再單擊量子效率,完成亮圖像的采集。
?。?)記錄量子效率的值。
?。?)在單色儀的上位軟件里,設定對應波長,波長從400nm-780nm。設置起始波長為400nm,每隔20nm,重復(3)到(8)步驟測一次量子效率的值。直到780nm為止。
(10)繪制量子效率的曲線。