光偵測器為一小型的偵測器、用以控制霧化與蒸發(fā)過程的溫度，可確保低分散性以提供可信賴的液相層析（HPLC）/揮發(fā)型光散射（ELS）分析結(jié)果，使你在每次的分析時能得到更多的峰信號及具可靠再現(xiàn)性的LC及LC/MS分析結(jié)果。

 

　　光偵測器的功能和應(yīng)用：

 

　　1. 材料表面形貌測試

　　AFM在水平方向具有0.1-0.2nm的高分辨率，在垂直方向的分辨率約為0.01nm。AFM對表面整體圖像進行分析可得到樣品表面的粗糙度、顆粒度、平均梯度、孔結(jié)構(gòu)和孔徑分布等參數(shù)，還可以對測試的結(jié)果進行三維模擬，得到更加直觀的3D圖像。

 

　　2.相位移模式原子力顯微鏡

　　作為輕敲模式的一項重要的擴展技術(shù)，相位移模式通過檢測驅(qū)動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實際振動的相位角之差（即兩者的相移）的變化來成像。引起該相移的因素很多，如樣品的組分、硬度、粘彈性質(zhì)等。因此利用相位移模式，可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質(zhì)的豐富信息。相位移模式已成為原子力顯微鏡/AFM的一種重要檢測技術(shù)。

 

　　3.力曲線測試

　　AFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-樣品間距離的關(guān)系曲線Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關(guān)于樣品和針尖間相互作用的必要信息。這個技術(shù)可以用來測量探針尖和樣品表面間的排斥力或長程吸引力，揭示定域的化學和機械性質(zhì)，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度。如果將探針用特定分子或基團修飾，利用力曲線分析技術(shù)就能夠給出特異結(jié)合分子間的力或鍵的強度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力、長程引力等。